Профилограф XR 1 — это портативный прибор, возможности которого расширены до полноценной стационарной станции на базе ПК.
Особенности:
Параметр |
Значение |
Щупы |
Индуктивная система свободного ощупывания со сменными щуповыми наконечниками, 2 мкм щуповое острие, измерительное усилие прим. 0,7 мН |
Стандарты |
DIN/ISO/JIS/ASME/MOTIF |
Скорость измерения |
0,2 мм/с; 0,5 мм/с; 1 мм/с |
Регулировка наклона |
±1,5° |
Распознование профиля |
Первичный, волнистость и шероховатость |
Разрешение профиля, |
±250 мкм = 8 нм, ±25 мкм = 0,8 нм, |
Параметры |
DIN/ISO: Ra, Rq, Rz, Rmax, Rp, Rv, Rpk, Rk, Rvk,Mr1, Mr2, A1, A2, Vo, Rt, R3z, RPc, Rmr (3x), HSC, RSm, Rsk, Rdc, Rdq, Pa, Pt, PMr (3x), Pdc, Wa, Wt, WSm, Wsk, JIS: Ra, Rz, RzJIS94, Sm, S, |
Отсечки Lc (согласно ISO/JIS) |
0,08 мм, 0,25 мм, 0,8 мм, 2,5 мм, |
Количество базовых длин |
1 - 5, задаваемое вручную |
Длины трассирования по стандартам Lt |
0,56 мм, 1,75 мм, 5,6 мм, 17,5 мм, свободно задаваемы |