Испытательный стенд термоэлектротренировки FTT-17 предназначен для испытаний интегральных микросхем (ИМС) на воздействие температуры при одновременной подаче электрических режимов в течение всего времени проведения испытания с целью выявления изделий со скрытыми дефектами.
Отличительные особенности:
Области применения:
Контроль параметров полупроводниковых компонентов и микросхем на пластине и в корпусе.
Исследовательские работы с полупроводниковыми компонентами и микросхемами.